TIME1130超聲波探傷儀
產(chǎn)品概述：
TIME1130數(shù)字超聲波探傷儀匯集公司26年超聲儀器設(shè)計(jì)、制造經(jīng)驗(yàn)而研制的更新?lián)Q代產(chǎn)品，能夠快速、無損傷、**地進(jìn)行工件內(nèi)部多種缺陷如裂紋、焊縫、 氣孔、砂眼、夾雜、折疊等的檢測(cè)、定位及對(duì)缺陷的定量和定性，廣泛應(yīng)用于電力、石化、鍋爐壓力容器、鋼結(jié)構(gòu)、** 、航空航天、鐵路交通、汽車、機(jī)械等領(lǐng)域。
相關(guān)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)和行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)：
本儀器涉及到的超聲波探傷國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)和行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)有：
-GB/T 12604.1-2005 無損檢測(cè) 術(shù)語 超聲檢測(cè)
-JB/T 10061-1999 A型脈沖反射式超聲探傷儀通用技術(shù)條件
-JJG 746-2004 超聲探傷儀檢定規(guī)程
-GB/T 11345-1989鋼焊縫手工超聲波探傷方法和探傷結(jié)果分級(jí)
-JB/T 4730.3-2005 承壓設(shè)備無損檢測(cè) 第3部分：超聲檢測(cè)
-JG/T 203-2007鋼結(jié)構(gòu)超聲波探傷及質(zhì)量分級(jí)法，代替JG/T 3034-1996
-SY/T 4109-2005 石油天然氣鋼制管道無損檢測(cè)，代替SY/T 0443-1998，SY/T 0444-1998，SY/T 4056-1993，SY/T 4065-1993
TIME1130超聲波探傷儀功能特點(diǎn):
- *新開發(fā)的、采用國(guó)內(nèi)業(yè)界**的可調(diào)方波激勵(lì)技術(shù)，內(nèi)置帶有可調(diào)節(jié)選項(xiàng)的高性能“方波脈沖發(fā)生器”，實(shí)現(xiàn)與探頭的*佳匹配，對(duì)檢測(cè)高衰減材料或厚工件具有**的穿透力和信噪比；而對(duì)檢測(cè)薄工件和復(fù)合材料又有高的分辨率。
- 先進(jìn)的電路設(shè)計(jì)，采用12bits 80MHz采樣片，配合5.7"TFT （640x480）高分辨率彩色液晶顯示屏，確保能快速、準(zhǔn)確地對(duì)缺陷的回波信號(hào)進(jìn)行顯示和分析，對(duì)各種弱小信號(hào)的變化和細(xì)節(jié)都能及時(shí)響應(yīng)，回波信號(hào)的實(shí)時(shí)性和真實(shí)性得到有效的保證，對(duì)缺陷性質(zhì)的分析和判斷極為有利。（下圖為全波顯示和射頻顯示）
![]()
![]()
- 支持動(dòng)態(tài)錄像功能，可記錄4個(gè)動(dòng)態(tài)記錄文件，每個(gè)文件可以以16幀/秒的速度記錄2分鐘實(shí)時(shí)波形。可外接U盤存貯到4個(gè)文件，每個(gè)文件半個(gè)小時(shí)，通道保存、通道存儲(chǔ)菜單化操作，大大方便數(shù)據(jù)的分析存儲(chǔ)（見下圖）。
![]()
- 支持灰度B掃功能，可顯示截面灰度B掃描，一個(gè)屏幕顯示豐富信息量，可用于簡(jiǎn)單TOFD應(yīng)用。（下圖為灰度B掃功能顯示圖）
![]()
- 豐富的波形凍結(jié)功能，波形凍結(jié)功能包括峰值顯示、波形比較、波形包絡(luò)等功能，還具有定時(shí)釋放能力，大大方便用戶操作。
- 機(jī)器嚴(yán)格符合歐標(biāo)En12668-1的標(biāo)準(zhǔn)要求。
- 內(nèi)置國(guó)內(nèi)主要4個(gè)探傷標(biāo)準(zhǔn)，可直接通過選取標(biāo)準(zhǔn)、試塊、探傷等級(jí)自動(dòng)設(shè)置DAC曲線的三線偏移量，內(nèi)帶“美國(guó)鋼結(jié)構(gòu)焊接規(guī)范焊縫分級(jí)AWS D1.1”評(píng)定標(biāo)準(zhǔn)，使檢測(cè)更加得心應(yīng)手，方便現(xiàn)場(chǎng)使用。（下圖為DAC曲線圖）
![]()
探傷功能
波峰記憶：實(shí)時(shí)檢索缺陷*高波，標(biāo)定缺陷*大值
實(shí)用AVG：實(shí)用AVG曲線、自動(dòng)換算缺陷φ值(X>3N，N為近場(chǎng)距離)
動(dòng)態(tài)記錄：檢測(cè)實(shí)時(shí)動(dòng)態(tài)記錄波形，存儲(chǔ)、回放
缺陷定位：實(shí)顯水平值P、深度值D、聲程值S
缺陷定量：實(shí)顯SL定量值（DAC曲線實(shí)時(shí)定量）
缺陷定性：通過包絡(luò)波形，人工經(jīng)驗(yàn)判斷
曲面修正：曲面工件探傷，修正曲率換算
灰度B掃描：實(shí)時(shí)掃查，描述缺陷橫切面
TIME1130超聲波探傷儀技術(shù)參數(shù)：
|
基本
|
|
測(cè)量單位
|
mm、inch、ms
|
|
掃描范圍（mm）
|
零界面入射～10000
|
|
聲速調(diào)節(jié)（m/s）
|
600～16000
|
|
探頭延遲（μs）
|
-1.000～750.000
|
|
顯示延遲（μs）
|
-20～+3400
|
|
工作方式
|
單探頭、雙探頭、透射
|
|
波形顯示方式
|
A掃描顯示、灰度B掃描顯示、AB掃描同時(shí)顯示
|
|
脈沖發(fā)生器
|
|
脈沖形式
|
模擬方波
|
|
發(fā)射電源（V）
|
100～400，10V步距可調(diào)
|
|
發(fā)射脈寬（ns）
|
75、100～500，50ns步距可調(diào)
|
|
探頭阻尼(Ω)
|
50、100、200、500
|
|
發(fā)射重復(fù)頻率(Hz)
|
10～1000
|
|
接收器
|
|
增益（dB）
|
0～110 分0.1、0.2、0.5、1.0、2.0、6.0、12.0可調(diào)
|
|
總帶寬（MHz）
|
0.5～20
|
|
檢波方式
|
正半波、負(fù)半波、全波、射頻
|
|
垂直線性誤差
|
±2%
|
|
放大器精度（dB）
|
±1
|
|
抑制（%）
|
屏高的0～80
|
|
采樣速率（MHz）
|
單片80 12bits
|
|
發(fā)射串?dāng)_抑制（dB）
|
≥80
|
|
動(dòng)態(tài)范圍（dB）
|
≥40
|
|
瞬時(shí)分辨力（dB）
|
≥32
|
|
水平線性誤差
|
≤0.1%
|
|
靈敏度余量
|
≥62dB
|
|
TIME1130超聲波探傷儀測(cè)量
|
|
測(cè)量閘門
|
2個(gè)獨(dú)立測(cè)量閘門
|
|
檢測(cè)方式
|
邊沿、峰值
|
|
閘門測(cè)量
|
回波的幅值、聲程、深度、投影等
|
|
凍結(jié)
|
凍結(jié)方式有：全凍結(jié)、峰值、比較、包絡(luò)等方式
|
|
AVG當(dāng)量計(jì)算
|
根據(jù)缺陷回波和AVG曲線自動(dòng)計(jì)算缺陷當(dāng)量評(píng)估
|
|
DAC缺陷定量
|
根據(jù)缺陷回波和DAC 曲線對(duì)缺陷進(jìn)行評(píng)估
|
|
閘門邏輯
|
關(guān)、測(cè)量、進(jìn)波報(bào)警、失波報(bào)警
|
|
閘門報(bào)警
|
關(guān)、即時(shí)、保持.2s、保持.5s、保持1s、保持2s、鎖存
|
|
報(bào)警蜂鳴
|
關(guān)、開
|
|
數(shù)據(jù)管理，通信及打印
|
|
數(shù)據(jù)存儲(chǔ)
|
50個(gè)探傷參數(shù)通道記錄
|
|
1000幅波形圖
|
|
（包括980幅A掃描波形和20幅B掃描波形）
|
|
4x2000幀的動(dòng)態(tài)波形
|
|
數(shù)據(jù)管理
|
實(shí)現(xiàn)對(duì)通道、波形、動(dòng)態(tài)記錄的存儲(chǔ)、查看、回放操作
|
|
上述均可存儲(chǔ)到本地或U盤
|
|
通信
|
通過USB接口與PC機(jī)通信
|
|
輸出接口
|
|
USB OTG接口
|
USB2.0 Device 與PC機(jī)通訊接口
|
|
USB2.0 Host 接U盤
|
|
其它
|
|
產(chǎn)品重量（kg）
|
約1.6
|
|
產(chǎn)品外型尺寸（mm）
|
300×180×58（不帶遮光罩）
|
|
工作溫度（℃）
|
-10～+50
|
|
存儲(chǔ)溫度（℃）
|
-20～+60
|
|
語言
|
英語、中文
|
|
探頭連接
|
LEMO 或BNC
|
|
電池容量（mAh）
|
聚合物電池2×3.7V 5000mAh
|
|
電池工作時(shí)間（h）
|
不低于8
|
|
充電時(shí)間（h）
|
不超過8
|
|
電源適配器
|
輸入100-240～50/60Hz
|
|
輸出9V DC/3 A～4A
|
以上參數(shù)僅供參考，實(shí)際以出廠說明書為準(zhǔn)！
